Questão número 337955

A determinação e análise de materiais cristalinos pode ser possível com a utilização da técnica de difração de raios-X, por meio da determinação dos raios difratados por planos atômicos e da Lei de Bragg: nλ = 2d_hkl senθ (um dos principais parâmetros para a análise é a determinação da distância interplanar dhkl e o ângulo de difração 2θ). Considerando um material de estrutura cristalina cúbica de corpo centrado, com parâmetro de rede de 0,30 nm, ordem de reflexão 1, e supondo ainda que foi utilizada radiação monocromática com comprimento de onda de 0,15 nm, calcule: (1) a distância interplanar e (2) o ângulo de difração para o conjunto de planos (200).

• A.

  Distância interplanar = 0,075 nm, e ângulo de difração 2θ = 60º.

• B.

  Distância interplanar = 0,150 nm, e ângulo de difração 2θ = 45º.

• C.

  Distância interplanar = 0,075 nm, e ângulo de difração 2θ = 30º.

• D.

  Distância interplanar = 0,150 nm, e ângulo de difração 2θ = 30º.

• E.

  Distância interplanar = 0,150 nm, e ângulo de difração 2θ = 60º.