Questão número 45063
Química - Práticas Laboratoriais em química - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) - 2012
Para verificar erros de alinhamento em dispositivos, podem ser utilizados dispositivos
- A. elétricos simples e medidas de resistência.
- B. observados do posicionamento da porta do transistor MOS.
- C. alternativos além das marcas de alinhamento.
- D. por interferometria ótica.
- E. por microscopia holográfica.
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