Questão número 514225

Assinale a alternativa que contém uma mudança que acarretará o aumento (melhoria) do rendimento (yield) do processo de fabricação de um dado circuito integrado (CI)?

  • A. Redução do diâmetro da lâmina (wafer).
  • B. Redução do tamanho do circuito integrado (die).
  • C. Aumento do número de etapas de processamento da tecnologia utilizada.
  • D. Introdução de novos materiais na tecnologia utilizada.
  • E. Aumento da densidade de defeitos da tecnologia utilizada.
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