Questão número 519892
Engenharia Elétrica - Princípios de Ciências dos Materiais - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) - 2012
Qual a técnica usada para a obtenção de uma imagem em secção transversal, com alta resolução, de uma camada de SiO2 sobre substrato Si, identificando as estruturas amorfa e cristalina do SiO2 e Si, respectivamente.
- A. Microscopia eletrônica de transmissão (TEM).
- B. Microscopia eletrônica de varredura (SEM).
- C. Microscopia de força atômica (AFM).
- D. Elipsometria.
- E. Perfilometria.
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