Questão número 520125

O emprego de técnicas de projeto voltadas ao teste (DFT) pode auxiliar tanto no teste de dispositivos isolados (teste de manufatura) como no teste de um sistema composto por vários dispositivos interconectados em uma placa de circuito impresso. Neste sentido, para minimizar ou mesmo evitar o emprego de “camas de pregos” para teste e diagnóstico de falhas em sistemas eletrônicos pode-se:

• A. Desenvolver testes funcionais mais elaborados que permitam exercitar todas as funcionalidades do sistema e indicar a presença de falhas.
• B. Empregar dispositivos que possuam a funcionalidade de “boundary scan” (JTAG – IEEE 1149.4).
• C. Testar os dispositivos eletrônicos antes de utilizá-los.
• D. Empregar somente dispositivos eletrônicos de boa procedência.
• E. Empregar qualquer dispositivo eletrônico.