Questão número 520137

Em aplicações onde são usadas técnicas de DFT baseadas em BIST – built-in self test deve-se ter especial atenção ao processo de aplicação do teste em si. No caso de memórias, uma das técnicas aplicadas para o auto-teste em baixa potência é:

• A. O espaçamento entre os ciclos de leitura e escrita.
• B. A aplicação do teste no tempo em que a memória não está sendo acessada.
• C. A modificação dos testes convencionais de memória reordenando o endereçamento para evitar ao máximo as transições nas linhas de endereço sem perder a cobertura de falhas.
• D. O emprego do menor número de transições nos bits da memória.
• E. Nenhuma das descritas anteriormente.