Engenharia Eletrônica - Eletrônica Digital - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) - 2004
No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.
A técnica do boundary-scan é a base da norma de teste IEEE 1149.1, adotada em diversos produtos no mercado, e é composta, basicamente, de um registrador de instruções, um registrador de dados de teste, uma porta de acesso à infra-estrutura de teste (TAP) e seu controlador.
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