Questão número 543613

Controlar os defeitos gerados na lâmina é mais crítico para dispositivos/circuitos com menores características de tamanho, alta densidade e em lâminas maiores. Dessa forma, a indústria eletrônica tem investido cada vez mais em minimizar os defeitos na máscara. Isso porque os defeitos em uma máscara/retículo acabam causando defeitos na lâmina (substrato) ou desvio de padrão. Um dos defeitos comuns que ocorrem na máscara/retículo é a contaminação com sujeira ou manchas na parte clara da máscara/retículo. Em óptica litográfica, esses defeitos podem ter a seguinte consequência:

  • A. bloquear a luz e imprimir, na lâmina, uma região transparente onde deveria ser opaca.
  • B. bloquear a luz e imprimir, na lâmina, uma região opaca onde deveria ser transparente.
  • C. permitir que toda a luz chegue à lâmina, tornando-a opaca.
  • D. bloquear a luz e imprimir, na lâmina, uma região transparente onde deveria ser translúcida.
  • E. permitir que toda a luz chegue à lâmina, tornando-a translúcida.
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