Questão número 565680

No que se refere à microscopia de força atômica pode-se afirmar que

• A. só pode ser utilizada para análise de materiais condutores.
• B. a energia cedida para a emissão do feixe de elétrons é igual a do feixe.
• C. a energia do feixe de elétrons deve ser maior que a força de ligação interatômica.
• D. um microscópio de força atômica utiliza corrente de tunelamento para a formação das imagens.
• E. o microscópio de força atômica fornece um perfil de superfície tridimensional.