Questão número 565682

Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons focalizados. Assinale a alternativa que NÃO está relacionada a essa técnica.

• A. Proporciona imageamento de alta resolução e capacidade de micro-usinagem.
• B. É aplicada na indústria de semicondutores para reparo e mascaramento de circuitos.
• C. As imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura fornecem um contraste, para cristais com diferentes orientações, mais pobre do que a microscopia por feixe de íons focalizados.
• D. Quanto maior for a densidade de uma amostra, mais elétrons secundários induzidos por íons serão gerados.
• E. Um dos defeitos provocados pelo feixe de íons é a amorfização, observada somente em materiais metálicos.