Questão número 565683

Observe as afirmativas abaixo. I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons. II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons. III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo. IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X. As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa

• A. Sentenças I, II, III.
• B. Sentenças I e II.
• C. Sentenças III e IV.
• D. Sentenças I e III.
• E. Sentenças II e IV.