Questão número 565716
Engenharia Elétrica - Teoria de Controle - FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO) - 2012
Nos circuitos integrados, deseja-se determinar a fase em que se encontram os silicetos, utilizando-se, para isso, a difratografia por raios-X. Essa técnica permite determinar
- A. o estiramento das moléculas.
- B. a densidade areal do filme.
- C. a composição física do filme.
- D. a estrutura do filme formado.
- E. a microestrutura do filme formado.
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