Questões sobre Geral

Julgue os itens seguintes, relativos à descrição VHDL apresentada acima.

Uma arquitetura em VHDL pode conter processos que delimitam zonas de código seqüencial, em que apenas variáveis e comandos seqüenciais podem ser utilizados.

• C. Certo
• E. Errado

As questões 20 e 21 referem-se à rede de atividades de um projeto descrita na tabela abaixo.

As atividades que apresentam alguma folga para seu tempo de execução são somente:

• A. (A) A e B;
• B. (B) B e C;
• C. (C) C e E;
• D. (D) D e E;
• E. (E) E e F.

Com relação a modelos de dispositivos e a tecnologias de fabricação de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A tecnologia CMOS é caracterizada, entre outros fatores, pela presença de transistores NMOS, construídos sobre um substrato com dopagem do tipo p, e de transistores PMOS, construídos sobre um poço, com dopagem do tipo N, inserido no substrato tipo P.

• C. Certo
• E. Errado

Considere as seguintes assertivas sobre o Modelo Essencial (ME) de um sistema de informação. O ME mostra: A(s) assertiva(s) correta(s) é/são somente:

A(s) assertativas(s) correta(s) é/são somente:

• A. (A) I;
• B. (B) II;
• C. (C) I e II;
• D. (D) II e III;
• E. (E) I, II e III.

Com relação a modelos de dispositivos e a tecnologias de fabricação de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

O modelo de nível 1 de um transistor MOS no Spice implementa o modelo de Shichman-Hodges, que apresenta boa precisão para efeitos de canal curto.

• C. Certo
• E. Errado

Observe as seguintes assertivas sobre a forma de especificação de requisitos conhecida como Casos de Uso:

Os atributos corretos são somente:

• A. I e II;
• B. I e IV;
• C. II, III e IV;
• D. I, III e IV;
• E. I, II, III e IV.

Com relação a modelos de dispositivos e a tecnologias de fabricação de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A ocorrência do fenômeno denominado latchup, em circuitos fabricados a partir da tecnologia CMOS, está relacionada à existência, nesses circuitos, de estruturas n-p-n-p parasitas. Para minimizar a ocorrência desse fenômeno, as resistências de poço e de substrato devem ser minimizadas.

• C. Certo
• E. Errado

Observe as seguintes assertivas sobre o teste de software:

A(s) assertiva(s) correta(s) é/são somente:

• A. (A) I;
• B. (B) II;
• C. (C) III;
• D. (D) I e II;
• E. (E) I, II e III.

Com relação a modelos de dispositivos e a tecnologias de fabricação de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

• C. Certo
• E. Errado

Considere as seguintes assertivas sobre modelos de ciclo de vida de desenvolvimento de sistemas:

 A(s) assertiva(s) correta(s) é/são somente:

• A.

  I;

• B.

  II;

• C.

  III;

• D.

  I e II;

• E.

  II e III.