Questões sobre Área: Ensaios Não Destrutivos

Como se pode relacionar a dureza Brinell (HB) ao limite de resistência convencional em kgf/mm² (σ_r ) para os aços com dureza próxima de 120 HB?

• A.

  Essas duas propriedades não se relacionam.

• B.

  σ_r é aproximadamente 36% de HB.

• C.

  ΗΒ é aproximadamente 36% de σ_r.

• D.

  HB é aproximadamente igual a σ_r.

• E.

  σ_r é aproximadamente igual a duas vezes HB.

Qual dos ensaios de dureza a seguir utiliza uma esfera de aço como penetrador?

• A.

  Vickers.

• B.

  Rockwell C.

• C.

  Brinell.

• D.

  Shore.

• E.

  Knoop.

No ensaio de tração,

• A.

  a estricção é inversamente proporcional à ductilidade do material ensaiado.

• B.

  o alongamento é diretamente proporcional à deformação total até a ruptura do corpo-de-prova.

• C.

  o limite de resistência é calculado dividindo-se a carga medida na ruptura pela seção transversal inicial do corpo-de-prova.

• D.

  o alongamento total é calculado dividindo-se o limite de resistência pelo limite de escoamento.

• E.

  o coeficiente de encruamento é medido na zona elástica.

No ensaio de dobramento com corpos-de-prova de seções transversais com momentos de inércia idênticos, pode-se afirmar que

• A.

  a curva carga versus deflexão não se altera em função da geometria da seção transversal.

• B.

  a seção transversal circular apresenta cargas maiores que as seções quadrada e I.

• C.

  a seção transversal quadrada apresenta cargas maiores que as seções circular e I.

• D.

  a seção transversal I apresenta cargas maiores que as seções circular e quadrada.

• E.

  as seções transversais quadrada e circular apresentam cargas iguais e maiores que as da seção I.

Assinale a alternativa correta no que se refere aos ensaios de dureza.

• A.

  No ensaio Rockwell B, utiliza-se uma esfera de 1,59 mm de diâmetro.

• B.

  No ensaio Brinell, a carga aplicada independe do diâmetro da esfera utilizada.

• C.

  No ensaio Vickers, utiliza-se um penetrador cônico de diamante.

• D.

  No ensaio Rockwell C, a dureza é calculada a partir da média de três medidas do diâmetro da impressão.

• E.

  O ensaio Knoop é um exemplo de medida de dureza por impacto.

O limite de escoamento sob cisalhamento puro

• A.

  é um valor entre 0,5 e 0,6 do limite de escoamento sob tração.

• B.

  é um valor entre duas a três vezes o limite de escoamento sob tração.

• C.

  é um valor entre 0,5 e 0,6 do limite de resistência sob tração.

• D.

  é um valor entre duas a três vezes o limite de resistência sob tração.

• E.

  independe do limite de escoamento sob tração.

No ensaio de fadiga com corpo-de-prova entalhado, o fator teórico de concentração tensão (K_t)

• A.

  eleva-se com o aumento da razão entre o raio da ponta do entalhe e o diâmetro mínimo do entalhe.

• B.

  independe da razão entre o raio da ponta do entalhe e o diâmetro mínimo do entalhe.

• C.

  independe do tipo de carga aplicada (axial ou de flexão).

• D.

  é maior para a carga de flexão do que para a carga axial.

• E.

  reduz-se com o aumento da razão entre o raio da ponta do entalhe e o diâmetro mínimo do entalhe.

O módulo de elasticidade transversal (módulo de cisalhamento) pode ser obtido no ensaio de tração e

• A.

  é diretamente proporcional ao módulo de elasticidade longitudinal e inversamente proporcional ao coeficiente de Poisson.

• B.

  é diretamente proporcional ao coeficiente de Poisson e inversamente proporcional ao módulo de elasticidade longitudinal.

• C.

  é diretamente proporcional ao produto entre o coeficiente de Poisson e o módulo de elasticidade longitudinal.

• D.

  é inversamente proporcional ao produto entre o coeficiente de Poisson e o módulo de elasticidade longitudinal.

• E.

  independe do coeficiente de Poisson.

Assinale a alternativa correta sobre a microscopia óptica.

• A.

  Para os metais e semicondutores pode-se utilizar indistintamente tanto o microscópio óptico de transmissão quanto o de luz refletida.

• B.

  Para os metais e semicondutores utilizam-se apenas os microscópios ópticos de luz refletida, pois a penetração da luz é muito pequena.

• C.

  Para os metais e semicondutores utilizam-se apenas os microscópios ópticos de transmissão, pois a penetração da luz é muito pequena.

• D.

  Para os metais e semicondutores utilizam-se apenas os microscópios ópticos de luz refletida, pois a penetração da luz é muito grande.

• E.

  Para os metais e semicondutores utilizam-se apenas os microscópios ópticos de transmissão, pois a penetração da luz é muito grande.

A propriedade dos metais que possibilita observar a microestrutura granular sob luz polarizada no microscópio óptico é a(o)

• A.

  resistência mecânica.

• B.

  opacidade.

• C.

  resistência à corrosão.

• D.

  anisotropia óptica.

• E.

  encruamento.