Questões de Engenharia Elétrica da Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

Os modelos de alguns dispositivos eletrônicos apresentam uma relação entre a grandeza de entrada e a de saída do tipo y = Ae^Bx, em que y é a variável de saída, x é a variável de entrada e A e B são constantes reais. A respeito dessa relação exponencial, julgue os seguintes itens.

Se x = x₁ + x₂, em que x₁ e x₂ são duas componentes que formam x, então y será dado por Ae ^{Bx 1} + Ae ^{Bx 2}.

• C. Certo
• E. Errado

A complexidade dos circuitos com alta escala de integração implica desafios para o desenvolvimento de procedimentos de caracterização, associados à dificuldade de acesso dos dispositivos e à malha de interconexões entre eles. A evolução das tecnologias, com a conseqüente redução das dimensões de dispositivos e o aumento da densidade dos circuitos integrados desenvolvidos, tem demandado cada vez mais o desenvolvimento de procedimentos de caracterização não-destrutivos e não-invasivos. No que se refere a esse tema, julgue os itens seguintes.

A opção pelo uso de técnicas de caracterização não-invasivas deve-se também a aspectos econômicos, na medida em que as amostras utilizadas na análise poderiam, em princípio, ser aproveitadas na produção, aumentando a produtividade (yield).

• C. Certo
• E. Errado

Acerca do cálculo de carga térmica de refrigeração no projeto de uma instalação de ar condicionado, julgue os seguintes itens.

A carga térmica devida ao ar externo de renovação depende, entre outros fatores, do número de ocupantes no espaço climatizado, sendo tanto maior quanto maior for o número de ocupantes.

• C. Certo
• E. Errado

Nas condições apresentadas na figura (sem carga conectada ao nó de saída), o ganho de tensão para médias freqüências (ou seja, desprezando reatâncias dos capacitores de acoplamento e capacitâncias internas do FET), em uma aproximação de primeira ordem, vale -2.

• C. Certo
• E. Errado

Os modelos de alguns dispositivos eletrônicos apresentam uma relação entre a grandeza de entrada e a de saída do tipo y = Ae^Bx, em que y é a variável de saída, x é a variável de entrada e A e B são constantes reais. A respeito dessa relação exponencial, julgue os seguintes itens.

• C. Certo
• E. Errado

A complexidade dos circuitos com alta escala de integração implica desafios para o desenvolvimento de procedimentos de caracterização, associados à dificuldade de acesso dos dispositivos e à malha de interconexões entre eles. A evolução das tecnologias, com a conseqüente redução das dimensões de dispositivos e o aumento da densidade dos circuitos integrados desenvolvidos, tem demandado cada vez mais o desenvolvimento de procedimentos de caracterização não-destrutivos e não-invasivos. No que se refere a esse tema, julgue os itens seguintes.

A combinação de procedimentos elétricos e ópticos de caracterização permite a identificação de falhas em circuitos integrados de alta densidade, acelerando o processo de caracterização.

• C. Certo
• E. Errado

Quanto às exigências de projeto para uma distribuição adequada do ar no interior de um espaço ocupado, julgue os itens subseqüentes.

A vazão de ar insuflado combinada com a diferença de entalpias entre o ar insuflado e o ar de retorno deve compensar a troca de calor ocorrida no espaço.

• C. Certo
• E. Errado

• C. Certo
• E. Errado

Os modelos de alguns dispositivos eletrônicos apresentam uma relação entre a grandeza de entrada e a de saída do tipo y = Ae^Bx, em que y é a variável de saída, x é a variável de entrada e A e B são constantes reais. A respeito dessa relação exponencial, julgue os seguintes itens.

Como y = Ae^Bx, entãoem que Rn é a função logarítmica natural.

• C. Certo
• E. Errado

A complexidade dos circuitos com alta escala de integração implica desafios para o desenvolvimento de procedimentos de caracterização, associados à dificuldade de acesso dos dispositivos e à malha de interconexões entre eles. A evolução das tecnologias, com a conseqüente redução das dimensões de dispositivos e o aumento da densidade dos circuitos integrados desenvolvidos, tem demandado cada vez mais o desenvolvimento de procedimentos de caracterização não-destrutivos e não-invasivos. No que se refere a esse tema, julgue os itens seguintes.

A microscopia eletrônica de varredura por tunelamento (STM) é um procedimento não-destrutivo de análise de superfícies, cujas características de resolução espacial e sensibilidade são particularmente adequadas às tecnologias VLSI e às nanotecnologias.

• C. Certo
• E. Errado