Questões de Engenharia Eletrônica

A respeito de projeto e otimização de circuitos integrados, julgue os seguintes itens.

Um elemento de circuito autotemporizado é o elemento C de Muller. Esse elemento comporta-se como um latch com duas entradas, sendo que a saída só muda quando as entradas forem iguais, senão, mantém o valor anterior.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

O teste para diagnóstico é utilizado durante a depuração da pastilha e seu objetivo é identificar e localizar falhas.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

O teste paramétrico verifica parâmetros não-discretos, como margem de ruído e atrasos de propagação em variadas condições de trabalho. Esse teste utiliza métodos diferentes do teste funcional, que opera com valores lógicos.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Sistemas críticos em segurança, como controle de reatores nucleares e veículos espaciais, não utilizam mecanismos de teste online devido ao risco representado pela sobrecarga de cálculo durante o funcionamento do circuito.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Falhas permanentes ocorrem devido a defeitos de fabricação e, ao contrário de falhas intermitentes, podem ser determinadas pelos testes offline de produção.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

No circuito abaixo, o vetor (A, B, C, D) = (0, 1, 1, 0) detecta a falha A s-a-1.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A simulação de falhas consiste na simulação da ocorrência de falhas de determinado modelo, comparando-se o resultado do teste com o da simulação sem falhas. Essa simulação pode ser corretamente utilizada para a verificação da cobertura de falhas, isto é, do percentual de falhas detectadas por estímulos aplicados.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A geração automática de vetores de teste é um processo que produz os vetores de saída correspondentes aos estímulos fornecidos, necessários à determinação da cobertura de falhas.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A técnica do boundary-scan é a base da norma de teste IEEE 1149.1, adotada em diversos produtos no mercado, e é composta, basicamente, de um registrador de instruções, um registrador de dados de teste, uma porta de acesso à infra-estrutura de teste (TAP) e seu controlador.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A controlabilidade de um sinal é um conceito relativo à testabilidade de circuitos que indica a capacidade de se propagar uma informação a partir de um nodo interno até as saídas do circuito.

• C. Certo
• E. Errado