Questões de Física da Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE)

O conhecimento da microestrutura dos materiais possibilita a compreensão de suas propriedades e de seus comportamentos. Em muitos casos, podem ser feitas previsões detalhadas do comportamento do material. A importância desse conhecimento tem levado a um desenvolvimento contínuo de técnicas experimentais, particularmente da microscopia, cujos aumentos máximos têm crescido e as resoluções, melhorado continuamente. Acerca da microscopia óptica, julgue os itens subseqüentes.

O fenômeno da difração faz com que a imagem formada pela passagem de raios provenientes de uma fonte pontual através de uma lente se reduza a um ponto.

• C. Certo
• E. Errado

O conhecimento da microestrutura dos materiais possibilita a compreensão de suas propriedades e de seus comportamentos. Em muitos casos, podem ser feitas previsões detalhadas do comportamento do material. A importância desse conhecimento tem levado a um desenvolvimento contínuo de técnicas experimentais, particularmente da microscopia, cujos aumentos máximos têm crescido e as resoluções, melhorado continuamente. Acerca da microscopia óptica, julgue os itens subseqüentes.

A aberração cromática de lentes esféricas é causada pela variação do índice de refração do material da lente com o comprimento de onda da luz.

• C. Certo
• E. Errado

O conhecimento da microestrutura dos materiais possibilita a compreensão de suas propriedades e de seus comportamentos. Em muitos casos, podem ser feitas previsões detalhadas do comportamento do material. A importância desse conhecimento tem levado a um desenvolvimento contínuo de técnicas experimentais, particularmente da microscopia, cujos aumentos máximos têm crescido e as resoluções, melhorado continuamente. Acerca da microscopia óptica, julgue os itens subseqüentes.

Em um microscópio óptico, altos valores de abertura numérica da objetiva em geral estão associados a uma pequena profundidade de campo.

• C. Certo
• E. Errado

O conhecimento da microestrutura dos materiais possibilita a compreensão de suas propriedades e de seus comportamentos. Em muitos casos, podem ser feitas previsões detalhadas do comportamento do material. A importância desse conhecimento tem levado a um desenvolvimento contínuo de técnicas experimentais, particularmente da microscopia, cujos aumentos máximos têm crescido e as resoluções, melhorado continuamente. Acerca da microscopia óptica, julgue os itens subseqüentes.

Em um microscópio óptico, o contraste é uma propriedade inerente da amostra e, portanto, não depende da interação da luz com a própria amostra.

• C. Certo
• E. Errado

O conhecimento da microestrutura dos materiais possibilita a compreensão de suas propriedades e de seus comportamentos. Em muitos casos, podem ser feitas previsões detalhadas do comportamento do material. A importância desse conhecimento tem levado a um desenvolvimento contínuo de técnicas experimentais, particularmente da microscopia, cujos aumentos máximos têm crescido e as resoluções, melhorado continuamente. Acerca da microscopia óptica, julgue os itens subseqüentes.

O contraste da imagem de materiais isotrópicos pode ser melhorado utilizando-se microscópios de luz polarizada, pois tais materiais são capazes de transformar luz polarizada em luz não polarizada.

• C. Certo
• E. Errado

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

As lentes do MET são feitas de material semicondutor, geralmente silício, e, portanto, não apresentam aberrações.

• C. Certo
• E. Errado

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

Um mecanismo de contraste possível na imagem formada por elétrons retroespalhados em um MEV é o contraste de composição.

• C. Certo
• E. Errado

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

A formação de imagem no MEV depende fundamentalmente do número de neutrinos emitidos pela amostra quando o feixe primário incide sobre ela.

• C. Certo
• E. Errado

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

No STM, é possível obter informações a partir da corrente elétrica que flui entre a ponta de prova do microscópio e a amostra.

• C. Certo
• E. Errado

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

O princípio de funcionamento do AFM é a medida das deflexões da ponta de prova do microscópio enquanto essa ponta varre a superfície da amostra sob análise.

• C. Certo
• E. Errado