Questões sobre Conceitos Básicos

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  • A.

    90 kWh.

  • B.

    50 kWh.

  • C.

    100 kWh.

  • D.

    110 kWh.

  • E.

    120 kWh.

  • A.

    28,6 e 1,95.

  • B.

    28,6 e 1,40.

  • C.

    28,6 e 1,08.

  • D.

    27,8 e 1,35.

  • E.

    27,8 e 1,48.

  • A.

    conector split bolt.

  • B.

    eletrodo de aterramento.

  • C.

    grampo de aterramento.

  • D.

    acoplador para medida de resistência de aterramento.

  • E.

    captor tipo Franklin.

Assinale a alternativa que NÃO expressa uma etapa da deposição química a partir de vapor.

  • A. O vapor se condensa na superfície do substrato.
  • B. Uma mistura de gases reagentes e inertes é introduzida na câmara de reação.
  • C. Os reagentes são adsorvidos no substrato.
  • D. Os adátomos migram e iniciam as reações químicas que formam um filme.
  • E. Os produtos gasosos da reação são dessorvidos e extraídos da câmara de reação.

No multímetro digital, o seletor na posição com a indicação ))) permite ao instrumento

  • A.

    o teste de tensão de isolação.

  • B.

    o teste de continuidade.

  • C.

    o teste de resistência de isolação.

  • D.

    a medida de intensidade sonora.

  • E.

    a detecção de interferência eletromagnética.

As alternativas abaixo se referem ao processo de deposição química a partir de vapor em baixa pressão.

I – É um processo controlado pela taxa de reação.

II – A temperatura deve ser muito bem controlada e uniforme em todas as superfícies do wafer.

III – Um fluxo constante e uniforme de gases reagentes deve alcançar todas as superfícies do wafer.

Assinale a alternativa com a(s) afirmativa(s) correta(s).

  • A. Apenas I está correta.
  • B. Apenas II está correta.
  • C. Apenas III está correta.
  • D. Apenas I e II estão corretas.
  • E. I, II e III estão corretas.

As afirmativas abaixo se referem ao reator de deposição química a partir de vapor em baixa pressão. I – Na deposição química a partir de vapor em baixas temperaturas, é possível se posicionar os wafers na vertical, com espaçamento bastante reduzido entre eles, proporcionando o posicionamento de grande número de wafers no interior da câmara, o que compensa as baixas taxas de deposição em relação à deposição química, a partir de vapor à pressão atmosférica. II – Como os gases reagentes são consumidos ao entrarem em contato com os wafers, a concentração de gases reagentes próxima à entrada da mistura de gases é maior do que a concentração de gases reagentes próxima à saída dos gases. III - O estabelecimento de um gradiente de temperatura no interior da câmara, com o aumento da temperatura no sentido contrário ao fluxo de gases (temperatura maior na entrada e menor na saída dos gases) é fundamental para aumentar a uniformidade dos wafers. Assinale a alternativa com a(s) afirmativa(s) correta(s):

  • A. I, II, III estão corretas.
  • B. Apenas I e II estão corretas.
  • C. Apenas III está correta.
  • D. Apenas I e III estão corretas.
  • E. Apenas II está correta.

A seguir, são apresentadas algumas vantagens de diferentes processos de deposição química a partir de vapor.

I – Reator simples.

II – Altas taxas de deposição.

III – Excelente pureza e uniformidade.

IV – Baixa temperatura.

Assinale a alternativa que apresenta a(s) vantagem(ns) da deposição química a partir de vapor em baixa pressão.

  • A. Apenas I.
  • B. Apenas I e II.
  • C. Apenas III.
  • D. Apenas II e III.
  • E. Apenas III e IV.

Assinale a alternativa que apresenta as desvantagens da deposição química a partir de vapor em baixa pressão.

  • A. Temperatura elevada.
  • B. Contaminação química.
  • C. Cobertura de degrau pobre.
  • D. Contaminação por partículas.
  • E. Taxas de deposição excessivamente altas, o que dificulta o controle do processo.

Analise o gráfico, que relaciona corrente [A] e tensão [V].

O valor da resistência, em ohms, é de

  • A. 2.
  • B. 3.
  • C. 4.
  • D. 6.
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