Questões de Engenharia Elétrica da FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)

Em caso de oferta de produtos por telefone ou reembolso postal, é necessário, para a possível responsabilização sobre danos, que o nome do fabricante e seu endereço constem

• A. nos encontros dos funcionários.
• B. na embalagem e demais publicidades do produto.
• C. nos veículos internos do fabricante.
• D. nas ações de marketing cultural.
• E. nos banners dos eventos de recursos humanos.

O sinal considerado indesejável na transmissão de uma mensagem, ocasionando perda de informação durante o transporte da mensagem entre a fonte e o destinatário, recebe o nome de

• A. rush.
• B. ninho.
• C. hint.
• D. ruído.
• E. orelha.

Para avaliar um defeito em um circuito, é necessário realizar a análise de continuidade elétrica entre 2 (dois) pontos de um circuito. Analise as assertivas abaixo e assinale a opção correta:

I) Um teste de continuidade sempre pode ser realizado em um circuito durante seu funcionamento.

II) Através da inserção de uma fonte de corrente em um ponto de um circuito e medindo-se a corrente em outro ponto, é possível testar se existe continuidade elétrica entre estes 2 (dois) pontos sem a necessidade de se alterar características físicas do circuito.

• A. As duas assertivas são verdadeiras, e a segunda é uma justificativa correta da primeira.
• B. As duas assertivas são verdadeiras, mas a segunda não é uma justificativa correta da primeira.
• C. A primeira assertiva é uma proposição verdadeira, e a segunda é uma proposição falsa.
• D. A primeira assertiva é uma proposição falsa, e a segunda é uma proposição verdadeira.
• E. Tanto a primeira como a segunda assertivas são falsas.

Durante a análise de um circuito alimentado por uma fonte de tensão contínua, um amperímetro DC foi colocado em série com um capacitor. Já com o circuito em regime estacionário, o amperímetro indica um valor de 0,010. O valor medido no equipamento indica que: alguns circuitos apresentam uma característica conhecida como corrente de fuga. Em um circuito alimentado por uma fonte de tensão de corrente contínua, é correto afirmar que:

• A. O componente funciona corretamente e o valor se refere à corrente de carga.
• B. O componente funciona corretamente e o valor se refere à diferença de potencial presente sobre este.
• C. O componente está defeituoso e o valor se refere à corrente de fuga.
• D. O componente está defeituoso e o valor se refere à diferença de potencial excessiva sobre o componente.
• E. O componente funciona corretamente e o valor demonstra a corrente que circula através deste.

Um circuito integrado se encontra em teste de consumo, ou seja, deseja-se quantificar esta característica em algumas situações de uso. Sabe-se que este circuito integrado recebe alimentação de uma fonte DC por meio de seus pinos 8 e 16, conectados, respectivamente, ao negativo e ao positivo da fonte. Para se estimar a potência consumida da fonte, dispõe-se de um resistor de precisão com valor de 0,1 Ω, uma fonte com indicação de tensão fornecida e um voltímetro. Analise os procedimentos abaixo:

I) Conectar o resistor em paralelo com a fonte.

II) Conectar o resistor em série com a fonte e o CI.

III) Medir a tensão sobre o resistor.

IV) Medir a tensão entre os pinos 16 e 8 do CI.

Para obter a estimativa da potência consumida:

• A. Os materiais disponíveis não são suficientes.
• B. Deve-se realizar I e III, então fazer o produto entre o valor da fonte, o valor medido em III e um fator de 0,1.
• C. Deve-se realizar I e IV, então fazer o produto entre o valor da fonte, o valor medido em IV e um fator de 10.
• D. Deve-se realizar II e III, então fazer o produto entre o valor da fonte, o valor medido em III e um fator de 10.
• E. Deve-se realizar II e IV, então fazer o produto entre o valor da fonte, o valor medido em IV e um fator de 0,1.

Um circuito integrado digital apresenta um comportamento indevido. Para se investigarem os motivos deste comportamento, torna-se necessário descobrir o nível de tensão presente em uma de suas saídas. Sabe-se que este CI recebe alimentação de uma fonte DC, de valor conhecido, conectada aos pinos 8 e 16, ligados, respectivamente, aos terminais negativo e positivo. O pino cuja saída precisa ser medida é o pino 5 do CI. Sabendo-se que, por impossibilidades físicas, não se consegue conexão elétrica do medidor com o terminal negativo da fonte, referência de terra do circuito, o procedimento correto para esta medição é:

• A. Conectar um amperímetro entre o pino 5 do CI e o restante do circuito, sendo o terminal positivo do equipamento ligado ao pino do CI e o terminal negativo ao restante do circuito.
• B. Conectar um voltímetro com o terminal positivo ligado ao pino 16 e o terminal negativo ao pino 5 do CI, ler a medida e subtrair seu valor da tensão da fonte.
• C. Conectar um voltímetro com o terminal positivo ligado ao pino 5 e o terminal negativo ao pino 16 do CI, ler a medida e subtrair seu valor da tensão da fonte.
• D. Conectar um amperímetro entre o pino 5 do CI e o restante do circuito, sendo o terminal negativo do equipamento ligado ao pino do CI e o terminal positivo ao restante do circuito.
• E. Conectar um amperímetro com o terminal positivo ligado ao pino 5 e o terminal negativo ao pino 16 do CI.

Deseja-se obter um modelo funcional de uma saída de um circuito em análise de corrente contínua (DC) quando em regime estacionário. Considerando-se que se pode aproximar o comportamento desta saída como linear para qualquer valor de carga resistiva utilizada, decidiu-se utilizar um equivalente Thevenin como modelo simplificado. Para utilizar este modelo, são necessários 2 (dois) parâmetros: a tensão da fonte e a resistência série. Para a tensão da fonte, está sendo considerado o valor máximo de tensão obtido quando há ausência de carga. Dispõe-se de um voltímetro, um amperímetro, uma carga resistiva fixa e uma variável, e uma fonte variável. Para encontrar o valor da resistência série, o procedimento correto é:

• A. Conectar a carga resistiva fixa à saída do circuito, utilizar o voltímetro conectado em paralelo com a carga e variar a tensão de alimentação do circuito até a tensão lida ser um quarto da máxima. Neste momento, o valor procurado será a diferença ente a tensão original da fonte e a tensão lida no voltímetro.
• B. Conectar a carga resistiva variável à saída do circuito, utilizar o voltímetro conectado em paralelo com a carga e variar a resistência até obter no voltímetro uma leitura que seja a metade da saída máxima. Neste momento, o valor procurado será o valor da carga.
• C. Conectar a carga resistiva variável à saída do circuito, utilizar o voltímetro em paralelo com esta carga, conectar o amperímetro entre a saída do circuito e a resistência, e variar a resistência até que o produto dos valores lidos nos equipamentos seja o menor possível. Neste momento, o valor procurado será o valor da carga.
• D. Conectar a carga resistiva variável à saída do circuito, utilizar o voltímetro em paralelo com esta carga, conectar o amperímetro entre a saída do circuito e a resistência, e variar a resistência até que o produto dos valores lidos nos equipamentos seja a metade do produto dos valores lidos sem a carga.
• E. Não é possível encontrar o valor pedido com os equipamentos fornecidos.

Analise as sentenças abaixo sobre testes na fabricação de circuitos integrados:

I) Durante a fase conhecida como “Wafer Testing”, os circuitos integrados que não forem aprovados em todos os padrões de teste são descartados.

II) Os testes realizados em chips, ainda no wafer, são realizados por amostragem, de acordo com teorias estatísticas permitindo uma avaliação média de cada lote.

III) Um probe card é um meio de conexão física entre os circuitos integrados fabricados em um wafer e um sistema eletrônico de teste.

Estão corretas as sentenças:

• A. I
• B. I e II
• C. II
• D. II e III
• E. III

O processo de teste de circuitos integrados em uma linha de produção é um passo que consome grande parte do tempo de fabricação. Além disso, é fundamental para a qualidade dos circuitos produzidos. Várias técnicas foram desenvolvidas para permitir um melhor desempenho neste quesito. Quanto a estas técnicas, analise as seguintes sentenças:

I) Um dos métodos para contornar alguns problemas encontrados na etapa de testes é o DFT (Design For Testing), aplicado ainda na fase de projeto do produto.

II) No método DFT, o produto é projetado de forma que suas arquiteturas permitam um teste de parâmetros realizado em condições de fábrica em vez de testar sua forma real de operação.

Em relação a estas sentenças, pode-se afirmar que:

• A. As duas sentenças são verdadeiras, e a segunda é uma justificativa correta da primeira.
• B. As duas sentenças são verdadeiras, mas a segunda não é uma justificativa correta da primeira.
• C. A primeira sentença é uma proposição verdadeira, e a segunda é uma proposição falsa.
• D. A primeira sentença é uma proposição falsa, e a segunda é uma proposição verdadeira.
• E. Tanto a primeira como a segunda sentenças são falsas.

Um possível método de conexão entre um dispositivo semicondutor e um circuito externo consiste em realizar a conexão do primeiro diretamente ao segundo. Neste método, os terminais do chip recebem deposições de porções de solda, antes mesmo de sua separação do wafer. Posteriormente, o chip é virado com seus terminais sobre o circuito externo e a soldagem é realizada pelo derretimento da solda, normalmente através de ar quente. Tal método é conhecido como:

• A. Wire-Bonder.
• B. Probe-card.
• C. Flip-chip.
• D. Wire-Probing.
• E. Chip-Soldering.