Questões de Física

Quando o feixe de elétrons incide sobre uma amostra, os elétrons dos átomos são excitados, mudando de níveis energéticos. Ao retornarem para sua posição inicial, liberam a energia adquirida na forma de ondas com comprimento de onda no espectro de raios-X. Um detector instalado na câmara de vácuo do Microscópio Eletrônico de Varredura mede a energia associada a esse fóton. Como a energia emitida no decaimento dos elétrons é característica para cada elemento químico, é possível, no ponto de incidência do feixe, determinar quais os elementos químicos presentes naquela área. A técnica descrita acima corresponde a de

• A. difração de raio-X.
• B. espectroscopia de raio-X por dispersão de energia (EDS).
• C. espectroscopia de fotoelétrons com raio-X.
• D. litografia.
• E. elipsometria espectral.

Os microscópios eletrônicos têm seu funcionamento baseado na emissão de um feixe de elétrons sobre a amostra analisada. Com relação ao canhão de elétrons, é CORRETO afirmar que

• A. o feixe de elétrons pode ser obtido apenas por meio do aquecimento do material da fonte.
• B. as fontes termoiônicas devem ser aquecidas a temperaturas acima de sua temperatura de fusão.
• C. as fontes de emissão de campo podem emitir feixes de elétrons à temperatura ambiente.
• D. a densidade de corrente emitida aumenta indefinidamente com o aumento de temperatura.
• E. o feixe de elétrons emitidos por uma fonte termoiônica é dito monocromático.

No que se refere à microscopia de força atômica pode-se afirmar que

• A. só pode ser utilizada para análise de materiais condutores.
• B. a energia cedida para a emissão do feixe de elétrons é igual a do feixe.
• C. a energia do feixe de elétrons deve ser maior que a força de ligação interatômica.
• D. um microscópio de força atômica utiliza corrente de tunelamento para a formação das imagens.
• E. o microscópio de força atômica fornece um perfil de superfície tridimensional.

Na condução de fluidos, além do uso comum de sistemas de bombeamento, fazem-se necessários sistemas de tubulação e válvulas de controle de fluxo nessas mesmas tubulações, de modo a garantir a condução correta dos fluidos. Os principais tipos de válvulas utilizados são:

• A. esfera, globo, direcional e retenção
• B. esfera, globo, portinhola e alívio
• C. bloqueio, regulagem, retenção e direcional
• D. bloqueio, regulagem, alívio e direcional
• E. bloqueio, regulagem, segurança e direcional

A espectroscopia de infravermelho por transformada de Fourier baseia-se na absorção de energia, na região do infravermelho do espectro eletromagnético, por uma amostra. Essa absorção de energia, com comprimento de onda na faixa do infravermelho,

• A. será maior quanto menor a distância percorrida pelo feixe incidente.
• B. ocorrerá quando o feixe incidente possuir energia suficiente para que ocorra uma transição eletrônica na amostra.
• C. ocorrerá apenas em soluções muito diluídas.
• D. será detectada quando ocasionar uma mudança no momento dipolar de uma molécula.
• E. independerá da frequência de vibração das ligações químicas das substâncias.

Um problema muito comum em deslocamento de fluidos por bombeamento é a cavitação que causa prejuízos de manutenção em bombas, além da perda de eficiência do transporte. Um dos motivos principais para que haja cavitação em bombas é a relação entre o NPSH disponível e o requerido. Para que a cavitação não ocorra, o NPSH disponível deve ser

• A. menor ou igual ao NPSH_requerido.
• B. estritamente menor do que NPSH_requerido.
• C. maior ou igual ao NPSH_requerido.
• D. estritamente maior do que o NPSH_requerido.
• E. igual a NPSH_requerido.

Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons focalizados. Assinale a alternativa que NÃO está relacionada a essa técnica.

• A. Proporciona imageamento de alta resolução e capacidade de micro-usinagem.
• B. É aplicada na indústria de semicondutores para reparo e mascaramento de circuitos.
• C. As imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura fornecem um contraste, para cristais com diferentes orientações, mais pobre do que a microscopia por feixe de íons focalizados.
• D. Quanto maior for a densidade de uma amostra, mais elétrons secundários induzidos por íons serão gerados.
• E. Um dos defeitos provocados pelo feixe de íons é a amorfização, observada somente em materiais metálicos.

Observe as afirmativas abaixo. I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons. II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons. III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo. IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X. As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa

• A. Sentenças I, II, III.
• B. Sentenças I e II.
• C. Sentenças III e IV.
• D. Sentenças I e III.
• E. Sentenças II e IV.

• A. 0,07 nm e 0,19 nm.
• B. 0,12 nm e 0,49 nm.
• C. 1,85 nm e 0,49 nm.
• D. 0,49 nm e 0,12 nm.
• E. 0,19 nm e 0,07 nm.

Considere as afirmativas abaixo: I – formação de imagem a partir de elétrons secundários e retro-espalhados decorrentes da interação de um feixe de elétrons com uma amostra. II – análise dos raios-X resultantes da relaxação dos átomos excitados pela interação entre o feixe primário de elétrons e a amostra. III – análise dos raios-X secundários característicos originados da incidência de um feixe de raios-X primário sobre uma amostra segundo um ângulo inferior ao ângulo crítico. IV – análise da energia cinética e da quantidade de elétrons oriundos de uma amostra submetida a um feixe de raios-X incidente. Assinale a alternativa que relaciona corretamente as afirmativas acima com as técnicas de análise a que se referem.

• A. I – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; II – Microscopia eletrônica de varredura; III – Fluorescência de raios-X por reflexão total; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
• B. I – Microscopia eletrônica de varredura; II – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; III- Fluorescência de raios-X por reflexão total; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
• C. I – Fluorescência de raios-X por reflexão total; II – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X; III – Microscopia eletrônica de varredura; IV – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia.
• D. I – Fluorescência de raios-X por reflexão total; II – Microscopia eletrônica de varredura; III – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
• E. I – Microscopia eletrônica de varredura; II – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X; III – Espectroscopia de raios- X por dispersão de energia; IV- Fluorescência de raios-X por reflexão total.