Questões de Física

A elipsometria espectral pode ser utilizada para análise de oxidação e corrosão em semicondutores. Assinale a alternativa que descreve o princípio dessa técnica de análise.

• A. O espectro de emissão de fótons característicos de átomos ionizados é uma elipse característica de cada elemento ou substância.
• B. Os elétrons arrancados da superfície de uma amostra descrevem uma trajetória elíptica característica.
• C. Baseia-se a técnica na mudança de polarização da luz após a reflexão.
• D. Baseia-se a técnica na análise de elétrons Auger por um analisador elíptico.
• E. Baseia-se na absorção diferenciada da radiação polarizada em função da razão entre os eixos maior e menor de uma elipse.

A incidência de um feixe de elétrons sobre uma amostra ocasiona interações elásticas e inelásticas. As afirmativas a seguir referem-se a esses tipos de interações. I – Afetam a trajetória dos elétrons, sem alterar suas velocidades. II – Originam os elétrons retro-espalhados. III – São consequências das interações entre os elétrons da amostra e os do feixe incidente. A(s) afirmativa(s) que se refere(m) às interações elásticas é (são)

• A. I.
• B. II.
• C. III.
• D. I e II.
• E. II e III.

A técnica que pode ser aplicada para a análise de materiais isolantes, pois não utiliza corrente de tunelamento, no modo contato, não contato ou no modo contato intermitente, é

• A. microscopia de força atômica.
• B. espectrometria de infravermelho por transformada de Fourrier.
• C. microscopia eletrônica de varredura.
• D. elipsometria espectral.
• E. imageamento com feixe de íons focalizados.

O superaquecimento presente em circuitos, a compressão mecânica de vapor é fonte importante para o profissional de manutenção encontrar o grau de superaquecimento. Com relação a esse assunto, analise as afirmações abaixo.

I É produzido somente no final do evaporador e na tubulação de admissão instalada dentro do espaço refrigerado.

II Não pode produzir resfriamento útil, pois é produzido apenas na linha de admissão fora do espaço refrigerado.

III Elimina a possibilidade de o vapor de admissão úmido alcançar a entrada do compressor, evitando prejuízos mecânicos.

Em relação a essas assertivas, conclui-se que:

• A.

  apenas o item III é correto.

• B.

  apenas o item II é correto.

• C.

  apenas o item I é correto.

• D.

  apenas os itens I e II estão corretos.

• E.

  os itens I, II e III estão corretos.

Exige o recobrimento de amostras não condutoras com uma camada de material condutivo. A metalização das amostras pode contribuir para melhorar o contraste. A técnica cuja preparação da amostra possui as características acima é

• A. elipsometria Espectral.
• B. fluorescência de raios-X por reflexão total.
• C. espetroscopia de infravermelho por transformada de Fourrier.
• D. microscopia eletrônica de varredura.
• E. imageamento por emissão focalizada de íons.

Assinale a carga térmica abaixo que NÃO é considerada no cálculo da carga térmica total de um ambiente refrigerado:

• A.

  Pessoas que, em um ambiente, estão em repouso absoluto (dormindo).

• B.

  Insolação em vidros.

• C. Ambientes adjacentes ao recinto climatizado, que mantêm a temperatura interna em 24 ºC.
• D.

  Iluminação fluorescente.

• E.

  Infiltrações de ar no recinto condicionado.

Considere os seguintes componentes de um equipamento de análises: canhão de elétrons, lentes magnéticas, câmara de vácuo e detectores. O equipamento que, em linhas gerais, possui todos os componentes acima é

• A. microscópio de força atômica.
• B. microscópio eletrônico de varredura.
• C. equipamentos para análise de fluorescência de raio-X.
• D. equipamento para análise de infravermelho por transformada de Fourier.
• E. elipsômetro espectral.

Assinale abaixo uma característica que NÃO é desejável em um fluido refrigerante.

• A.

  Calor latente de vaporização elevado

• B.

  Pressão de vaporização não muita baixa.

• C.

  Volume específico na fase vapor alto.

• D.

  Condutibilidade térmica elevada.

• E.

  Ser de fácil detenção quando houver vazamento.

Abaixo são citadas desvantagens de um dos tipos de fonte de elétrons utilizada em um microscópio eletrônico de varredura: 1 – Evaporação do catodo. 2 – Baixo brilho. A fonte a que se refere as desvantagens mencionadas é a fonte

• A. termoiônica.
• B. de emissão por campo térmica.
• C. de emissão por campo fria.
• D. de emissão por campo (Schottky).
• E. termoiônica ou de emissão de campo.

Um material isolante de 0,5 cm de espessura é colocado sobre uma das superfícies de uma chapa, enquanto a outra superfície apresenta uma temperatura de 100 °C. A espessura e a condutividade térmica da chapa, respectivamente, valem 3 cm e 60 W/m °C. Supondo que a temperatura da superfície livre do isolante seja de 25 °C e que o fluxo de calor desta situação física seja de 30 kW/m2, a condutividade térmica do isolante, em W/m °C, e a temperatura na interface da chapa e o isolante, em °C, respectivamente, valem:

• A.

  0,1 e 75.

• B.

  1,5 e 85.

• C.

  1,7 e 85.

• D.

  0,002 e 75.

• E.

  2,5 e 85.