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A análise de materiais e dispositivos adotados pelas tecnologias da informação demanda, pela complexidade inerente às dimensões das estruturas de interesse situadas em escalas micro e nanoscópicas, a construção de modelos matemáticos e de procedimentos de tratamento da informação especialmente dedicados a esse fim. Acerca desse assunto, julgue os itens subseqüentes.
O emprego de procedimentos de transformação funcional possibilita a recuperação de informações, minimizando o ruído, nas análises espectroscópicas de materiais e dispositivos para as tecnologias da informação.
A análise de materiais e dispositivos adotados pelas tecnologias da informação demanda, pela complexidade inerente às dimensões das estruturas de interesse situadas em escalas micro e nanoscópicas, a construção de modelos matemáticos e de procedimentos de tratamento da informação especialmente dedicados a esse fim. Acerca desse assunto, julgue os itens subseqüentes.
A modelagem dos mecanismos de transporte de carga elétrica em dispositivos de escala nanoscópica requer o uso de métodos estatísticos, que considerem a natureza quântica dos portadores de carga e de suas interações com o meio onde eles se deslocam.
A caracterização e a análise de propriedades elétricas e ópticas de materiais e dispositivos (eletrônicos e eletrópticos) é atividade de interesse fundamental no desenvolvimento das tecnologias de informação. Quanto a esse tema, julgue os itens que se seguem.
A análise da fotoluminescência de materiais e dispositivos fornece informações relevantes acerca do nível de ruído a eles associado.
A caracterização e a análise de propriedades elétricas e ópticas de materiais e dispositivos (eletrônicos e eletrópticos) é atividade de interesse fundamental no desenvolvimento das tecnologias de informação. Quanto a esse tema, julgue os itens que se seguem.
A microscopia de varredura capacitiva (SCM), apesar de sua grande sensibilidade e resolução espacial, é pouco utilizada na caracterização de dispositivos e circuitos VLSI devido ao seu caráter destrutivo.
A caracterização e a análise de propriedades elétricas e ópticas de materiais e dispositivos (eletrônicos e eletrópticos) é atividade de interesse fundamental no desenvolvimento das tecnologias de informação. Quanto a esse tema, julgue os itens que se seguem.
A caracterização elétrica estática (I×V) é utilizada para a determinação da densidade de estados de interface em estruturas metal-isolante-semicondutor (MIS).
A caracterização e a análise de propriedades elétricas e ópticas de materiais e dispositivos (eletrônicos e eletrópticos) é atividade de interesse fundamental no desenvolvimento das tecnologias de informação. Quanto a esse tema, julgue os itens que se seguem.
A microscopia eletrônica de varredura, além de possibilitar a visualização de estruturas microscópicas na superfície de circuitos integrados VLSI, pode também ser utilizada para avaliar o nível de atividade elétrica desses circuitos.
A caracterização e a análise de propriedades elétricas e ópticas de materiais e dispositivos (eletrônicos e eletrópticos) é atividade de interesse fundamental no desenvolvimento das tecnologias de informação. Quanto a esse tema, julgue os itens que se seguem.
O emprego de espectroscopias de transmissão e de absorção de radiação eletromagnética em materiais semicondutores é limitado pela baixa concentração de portadores de carga móveis nesses materiais, à temperatura ambiente.
A tecnologia de fabricação de dispositivos e circuitos integrados para as tecnologias da informação fundamenta-se na associação e na transformação de materiais, freqüentemente de estado sólido, para implementar os elementos de processamento de informação desejados. A identificação acurada das características e propriedades desses materiais é uma etapa crucial desses processos de fabricação. Com relação a esse assunto, julgue os seguintes itens.
Na espectroscopia de fotoelétrons X (XPS), sensibilidade, resolução espacial e caráter não-invasivo são características que a tornam uma ferramenta de grande utilidade na análise da composição química de superfícies de materiais.
A tecnologia de fabricação de dispositivos e circuitos integrados para as tecnologias da informação fundamenta-se na associação e na transformação de materiais, freqüentemente de estado sólido, para implementar os elementos de processamento de informação desejados. A identificação acurada das características e propriedades desses materiais é uma etapa crucial desses processos de fabricação. Com relação a esse assunto, julgue os seguintes itens.
A espectroscopia de elétrons Auger apresenta grande sensibilidade na análise de composição superficial de materiais, mas é limitada por sua baixa resolução em profundidade.
A tecnologia de fabricação de dispositivos e circuitos integrados para as tecnologias da informação fundamenta-se na associação e na transformação de materiais, freqüentemente de estado sólido, para implementar os elementos de processamento de informação desejados. A identificação acurada das características e propriedades desses materiais é uma etapa crucial desses processos de fabricação. Com relação a esse assunto, julgue os seguintes itens.
Procedimentos de caracterização com base no ataque químico seletivo são úteis na identificação de planos cristalinos e de defeitos estruturais em materiais semicondutores.
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