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O microscópio eletrônico utiliza feixes de elétrons em vez de luz, como é o caso do microscópio óptico. Existem três tipos básicos de microscópios eletrônicos: de transmissão, de varredura e de tunelamento. Como todos os tipos possuem potencial de aumento superior ao óptico, são bastante utilizados para a caracterização de materiais e dispositivos. Quanto a esse tema, julgue os itens de 77 a 84.
Na microscopia eletrônica de varredura — scanning electron microscopy (SEM) —, as amostras devem ser eletricamente condutivas ou, ao menos, possuir uma fina camada condutiva na superfície.
O microscópio eletrônico utiliza feixes de elétrons em vez de luz, como é o caso do microscópio óptico. Existem três tipos básicos de microscópios eletrônicos: de transmissão, de varredura e de tunelamento. Como todos os tipos possuem potencial de aumento superior ao óptico, são bastante utilizados para a caracterização de materiais e dispositivos. Quanto a esse tema, julgue os itens de 77 a 84.
A preparação da amostra na TEM pode ser um procedimento bastante complexo. A preparação deve levar em consideração o tipo de material e o tipo de caracterização que será feita.
O microscópio eletrônico utiliza feixes de elétrons em vez de luz, como é o caso do microscópio óptico. Existem três tipos básicos de microscópios eletrônicos: de transmissão, de varredura e de tunelamento. Como todos os tipos possuem potencial de aumento superior ao óptico, são bastante utilizados para a caracterização de materiais e dispositivos. Quanto a esse tema, julgue os itens de 77 a 84.
A SEM pode ser utilizada para se obter informação cristalográfica do material sob análise.
O microscópio eletrônico utiliza feixes de elétrons em vez de luz, como é o caso do microscópio óptico. Existem três tipos básicos de microscópios eletrônicos: de transmissão, de varredura e de tunelamento. Como todos os tipos possuem potencial de aumento superior ao óptico, são bastante utilizados para a caracterização de materiais e dispositivos. Quanto a esse tema, julgue os itens de 77 a 84.
STM e AFM (atomic force microscopy) são geralmente utilizadas para obter imagens topográficas do material.
O microscópio eletrônico utiliza feixes de elétrons em vez de luz, como é o caso do microscópio óptico. Existem três tipos básicos de microscópios eletrônicos: de transmissão, de varredura e de tunelamento. Como todos os tipos possuem potencial de aumento superior ao óptico, são bastante utilizados para a caracterização de materiais e dispositivos. Quanto a esse tema, julgue os itens de 77 a 84.
A TEM proporciona dois modos para se observar amostras: modo de difração e modo de imagens.
O microscópio eletrônico utiliza feixes de elétrons em vez de luz, como é o caso do microscópio óptico. Existem três tipos básicos de microscópios eletrônicos: de transmissão, de varredura e de tunelamento. Como todos os tipos possuem potencial de aumento superior ao óptico, são bastante utilizados para a caracterização de materiais e dispositivos. Quanto a esse tema, julgue os itens de 77 a 84.
A TEM é utilizada para analisar a estrutura cristalina e a microestrutura dos materiais, podendo ser usada para estudar toda variedade de material: metal, cerâmico, semicondutor e polímero.
A formação de uma imagem ampliada em um microscópio óptico, composto de uma objetiva e de uma ocular, exige que
A respeito de células solares de junção p-n, julgue os itens seguintes.
A emissão de luz de uma junção p-n polarizada diretamente é conhecida como efeito fotovoltaico.
A respeito de células solares de junção p-n, julgue os itens seguintes.
No efeito fotovoltaico, há o aparecimento de uma tensão direta na junção iluminada.
A respeito de células solares de junção p-n, julgue os itens seguintes.
O valor da tensão de circuito aberto é limitado pelo potencial de contato da junção p-n.
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