Questões de Física da FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)

No que se refere à microscopia de força atômica pode-se afirmar que

• A. só pode ser utilizada para análise de materiais condutores.
• B. a energia cedida para a emissão do feixe de elétrons é igual a do feixe.
• C. a energia do feixe de elétrons deve ser maior que a força de ligação interatômica.
• D. um microscópio de força atômica utiliza corrente de tunelamento para a formação das imagens.
• E. o microscópio de força atômica fornece um perfil de superfície tridimensional.

A espectroscopia de infravermelho por transformada de Fourier baseia-se na absorção de energia, na região do infravermelho do espectro eletromagnético, por uma amostra. Essa absorção de energia, com comprimento de onda na faixa do infravermelho,

• A. será maior quanto menor a distância percorrida pelo feixe incidente.
• B. ocorrerá quando o feixe incidente possuir energia suficiente para que ocorra uma transição eletrônica na amostra.
• C. ocorrerá apenas em soluções muito diluídas.
• D. será detectada quando ocasionar uma mudança no momento dipolar de uma molécula.
• E. independerá da frequência de vibração das ligações químicas das substâncias.

Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons focalizados. Assinale a alternativa que NÃO está relacionada a essa técnica.

• A. Proporciona imageamento de alta resolução e capacidade de micro-usinagem.
• B. É aplicada na indústria de semicondutores para reparo e mascaramento de circuitos.
• C. As imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura fornecem um contraste, para cristais com diferentes orientações, mais pobre do que a microscopia por feixe de íons focalizados.
• D. Quanto maior for a densidade de uma amostra, mais elétrons secundários induzidos por íons serão gerados.
• E. Um dos defeitos provocados pelo feixe de íons é a amorfização, observada somente em materiais metálicos.

Observe as afirmativas abaixo. I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons. II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons. III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo. IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X. As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa

• A. Sentenças I, II, III.
• B. Sentenças I e II.
• C. Sentenças III e IV.
• D. Sentenças I e III.
• E. Sentenças II e IV.

• A. 0,07 nm e 0,19 nm.
• B. 0,12 nm e 0,49 nm.
• C. 1,85 nm e 0,49 nm.
• D. 0,49 nm e 0,12 nm.
• E. 0,19 nm e 0,07 nm.

Considere as afirmativas abaixo: I – formação de imagem a partir de elétrons secundários e retro-espalhados decorrentes da interação de um feixe de elétrons com uma amostra. II – análise dos raios-X resultantes da relaxação dos átomos excitados pela interação entre o feixe primário de elétrons e a amostra. III – análise dos raios-X secundários característicos originados da incidência de um feixe de raios-X primário sobre uma amostra segundo um ângulo inferior ao ângulo crítico. IV – análise da energia cinética e da quantidade de elétrons oriundos de uma amostra submetida a um feixe de raios-X incidente. Assinale a alternativa que relaciona corretamente as afirmativas acima com as técnicas de análise a que se referem.

• A. I – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; II – Microscopia eletrônica de varredura; III – Fluorescência de raios-X por reflexão total; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
• B. I – Microscopia eletrônica de varredura; II – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; III- Fluorescência de raios-X por reflexão total; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
• C. I – Fluorescência de raios-X por reflexão total; II – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X; III – Microscopia eletrônica de varredura; IV – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia.
• D. I – Fluorescência de raios-X por reflexão total; II – Microscopia eletrônica de varredura; III – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
• E. I – Microscopia eletrônica de varredura; II – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X; III – Espectroscopia de raios- X por dispersão de energia; IV- Fluorescência de raios-X por reflexão total.

A elipsometria espectral pode ser utilizada para análise de oxidação e corrosão em semicondutores. Assinale a alternativa que descreve o princípio dessa técnica de análise.

• A. O espectro de emissão de fótons característicos de átomos ionizados é uma elipse característica de cada elemento ou substância.
• B. Os elétrons arrancados da superfície de uma amostra descrevem uma trajetória elíptica característica.
• C. Baseia-se a técnica na mudança de polarização da luz após a reflexão.
• D. Baseia-se a técnica na análise de elétrons Auger por um analisador elíptico.
• E. Baseia-se na absorção diferenciada da radiação polarizada em função da razão entre os eixos maior e menor de uma elipse.

A incidência de um feixe de elétrons sobre uma amostra ocasiona interações elásticas e inelásticas. As afirmativas a seguir referem-se a esses tipos de interações. I – Afetam a trajetória dos elétrons, sem alterar suas velocidades. II – Originam os elétrons retro-espalhados. III – São consequências das interações entre os elétrons da amostra e os do feixe incidente. A(s) afirmativa(s) que se refere(m) às interações elásticas é (são)

• A. I.
• B. II.
• C. III.
• D. I e II.
• E. II e III.

A técnica que pode ser aplicada para a análise de materiais isolantes, pois não utiliza corrente de tunelamento, no modo contato, não contato ou no modo contato intermitente, é

• A. microscopia de força atômica.
• B. espectrometria de infravermelho por transformada de Fourrier.
• C. microscopia eletrônica de varredura.
• D. elipsometria espectral.
• E. imageamento com feixe de íons focalizados.

Exige o recobrimento de amostras não condutoras com uma camada de material condutivo. A metalização das amostras pode contribuir para melhorar o contraste. A técnica cuja preparação da amostra possui as características acima é

• A. elipsometria Espectral.
• B. fluorescência de raios-X por reflexão total.
• C. espetroscopia de infravermelho por transformada de Fourrier.
• D. microscopia eletrônica de varredura.
• E. imageamento por emissão focalizada de íons.