Questões de Física da FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)

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Considere os seguintes componentes de um equipamento de análises: canhão de elétrons, lentes magnéticas, câmara de vácuo e detectores. O equipamento que, em linhas gerais, possui todos os componentes acima é

  • A. microscópio de força atômica.
  • B. microscópio eletrônico de varredura.
  • C. equipamentos para análise de fluorescência de raio-X.
  • D. equipamento para análise de infravermelho por transformada de Fourier.
  • E. elipsômetro espectral.

Abaixo são citadas desvantagens de um dos tipos de fonte de elétrons utilizada em um microscópio eletrônico de varredura: 1 – Evaporação do catodo. 2 – Baixo brilho. A fonte a que se refere as desvantagens mencionadas é a fonte

  • A. termoiônica.
  • B. de emissão por campo térmica.
  • C. de emissão por campo fria.
  • D. de emissão por campo (Schottky).
  • E. termoiônica ou de emissão de campo.

Com base nas afirmativas abaixo, assinale a alternativa que apresenta as características de um fônon I – Ondas elásticas que se propagam pela rede cristalina. II – Propagam-se com velocidade igual à velocidade do som no meio de propagação. III – Propagam-se com velocidade igual à velocidade da luz no vácuo.

  • A. I.
  • B. II.
  • C. III.
  • D. I e II.
  • E. II e III.

Dentre as técnicas de análise abaixo, assinale aquela que pode ser utilizada com pouco ou nenhum vácuo.

  • A. Espectroscopia de elétrons Auger.
  • B. Microscopia eletrônica de varredura com fonte termoiônica.
  • C. Espectrometria de massa por íons secundários.
  • D. Microscopia eletrônica de varredura com canhão de emissão de campo.
  • E. Microscopia de força atômica.

Leia atentamente as alternativas abaixo: I – A espectroscopia de elétrons Auger não possibilita a detecção dos elementos hidrogênio e hélio. II – A espectrometria de fotoelétrons por raios-X é uma técnica de superfície altamente específica devido ao curto alcance dos elétrons excitados do sólido. Além da análise dos elementos presentes, pode fornecer informações sobre as ligações químicas. III – A fluorescência de raios-X por reflexão total é uma técnica muito sensível capaz de detectar materiais em concentrações baixíssimas. Assinale a alternativa que contém afirmativas verdadeiras.

  • A. Somente I.
  • B. Somente II.
  • C. Somente III.
  • D. Somente III e II.
  • E. I, II e III.

Considere dois feixes incidentes distintos – um de elétrons e o outro de íons. Com relação a esses feixes, pode-se afirmar que

  • A. tanto os feixes de íons quanto o de elétrons penetram profundamente em amostras com elementos de elevado número atômico.
  • B. os feixes de íons penetrarão mais profundamente que o de elétrons, independente da amostra, devido a sua maior quantidade de movimento.
  • C. os feixes de íon atravessam completamente qualquer tipo de amostra.
  • D. devido as suas maiores dimensões, os íons têm maior probabilidade de interação com átomos da amostra, o que impede que os íons penetrem profundamente a amostra.
  • E. em consequência de seu tamanho e de sua energia, uma maior quantidade de raios-X é emitida por uma amostra quando bombardeada por um feixe de íons, comparando-se com a mesma amostra bombardeada por um feixe de elétrons.

As interações entre um feixe de íons incidente e uma amostra NÃO ocasionam

  • A. emissão de raios-X.
  • B. emissão de átomos neutros.
  • C. emissão de íons.
  • D. aprisionamento dos íons incidentes na matriz da amostra.
  • E. emissão de elétrons.

Em relação aos conceitos básicos de metrologia, a operação que estabelece uma relação entre os valores e as incertezas de medição fornecidas por padrões e as indicações correspondentes com as incertezas associadas é conhecida como

  • A. calibração.
  • B. verificação.
  • C. ajuste.
  • D. certificação.
  • E. validação.

O Sistema Internacional de Unidade (SI) é um sistema coerente de unidades adotado e recomendado pela Conferência Geral de Pesos e Medidas (CGPM), o qual é baseado em algumas unidades-base. Acerca desse assunto, pode-se afirmar que as unidades-base para as grandezas intensidade luminosa, quantidade de matéria e temperatura termodinâmica são, respectivamente,

  • A. candela, mol e kelvin.
  • B. lux, quilograma e graus Celsius.
  • C. lúmen, grama e graus centígrados.
  • D. candela, mol e graus Celsius.
  • E. lux, grama e kelvin.

Em relação aos instrumentos de medição no âmbito da metrologia, julgue as afirmativas abaixo.

I – O sensor é o dispositivo, utilizado em medição, que fornece uma grandeza de saída, a qual tem uma relação especificada com uma grandeza de entrada.

II – O transdutor de medição é o elemento de um sistema de medição que é diretamente afetado por um fenômeno, corpo ou substância que contém a grandeza a ser medida.

III – A resolução é a menor variação da grandeza medida que causa uma variação perceptível na indicação correspondente.

Em relação aos itens acima, está correta a alternativa

  • A. somente a afirmativa III está correta.
  • B. somente a afirmativa II está correta.
  • C. somente a afirmativa I está correta.
  • D. as afirmativas I, II e III estão corretas.
  • E. somente as afirmativas II e III estão corretas.
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