Questões de Conhecimentos Técnicos de um determinado Cargo/Área do ano 2013

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Assinale a alternativa correta sobre a microscopia óptica.

  • A.

    Para os metais e semicondutores pode-se utilizar indistintamente tanto o microscópio óptico de transmissão quanto o de luz refletida.

  • B.

    Para os metais e semicondutores utilizam-se apenas os microscópios ópticos de luz refletida, pois a penetração da luz é muito pequena.

  • C.

    Para os metais e semicondutores utilizam-se apenas os microscópios ópticos de transmissão, pois a penetração da luz é muito pequena.

  • D.

    Para os metais e semicondutores utilizam-se apenas os microscópios ópticos de luz refletida, pois a penetração da luz é muito grande.

  • E.

    Para os metais e semicondutores utilizam-se apenas os microscópios ópticos de transmissão, pois a penetração da luz é muito grande.

A propriedade dos metais que possibilita observar a microestrutura granular sob luz polarizada no microscópio óptico é a(o)

  • A.

    resistência mecânica.

  • B.

    opacidade.

  • C.

    resistência à corrosão.

  • D.

    anisotropia óptica.

  • E.

    encruamento.

Assinale a alternativa que lista os equipamentos de microscopia em ordem decrescente de resolução média.

  • A.

    Campo iônico – óptica – eletrônica de varredura – eletrônica de transmissão com réplicas – eletrônica de transmissão com lâmina fina.

  • B.

    Óptica – eletrônica de varredura – eletrônica de transmissão com réplicas – eletrônica de transmissão com lâmina fina – campo iônico.

  • C.

    Óptica – campo iônico – eletrônica de varredura – eletrônica de transmissão com réplicas – eletrônica de transmissão com lâmina fina.

  • D.

    Óptica – eletrônica de varredura – campo iônico – eletrônica de transmissão com réplicas – eletrônica de transmissão com lâmina fina.

  • E.

    A resolução média independe do princípio de funcionamento dos microscópios.

Assinale a sequência correta de operações para se analisar uma amostra metálica por microscopia óptica.

  • A.

    Identificação e escolha da seção a ser estudada – lixamento de desbaste – embutimento – seccionamento – lixamento de acabamento – polimento – ataque químico.

  • B.

    Identificação e escolha da seção a ser estudada – lixamento de desbaste – embutimento – seccionamento – lixamento de acabamento – polimento – ataque químico.

  • C.

    Identificação e escolha da seção a ser estudada – embutimento – seccionamento – lixamento de desbaste – lixamento de acabamento – polimento – ataque químico.

  • D.

    Identificação e escolha da seção a ser estudada – embutimento – seccionamento – ataque químico – lixamento de desbaste – lixamento de acabamento – polimento.

  • E.

    Identificação e escolha da seção a ser estudada – seccionamento – embutimento – lixamento de desbaste – lixamento de acabamento – polimento – ataque químico.

O reagente de Baumann empregado para avaliação da distribuição de enxofre na análise macrográfica de aços é composto por

  • A.

    20 mL de cloreto cupro amonical em 100 mL de água destilada.

  • B.

    100 mL de ácido nítrico concentrado em 100 mL de água destilada.

  • C.

    5 mL de ácido clorídrico concentrado em 100 mL de água destilada.

  • D.

    1 a 5 mL de ácido sulfúrico concentrado em 100 mL de água destilada.

  • E.

    10 g de persulfato de amônio em 90 mL de água destilada.

A análise macrográfica realizada a olho nu ou com o auxílio de uma lupa é útil para

  • A.

    determinar a composição química da liga analisada.

  • B.

    quantificar a densidade de discordâncias por área analisada.

  • C.

    observar as dimensões da zona termicamente afetada num cordão de solda.

  • D.

    determinar a proporção entre grãos ferríticos e grãos perlíticos num aço-liga.

  • E.

    determinar a estrutura cristalina dos grãos de uma liga metálica.

A observação de arranjos celulares de discordâncias em ligas metálicas encruadas é possível na microscopia

  • A.

    óptica de transmissão.

  • B.

    óptica de reflexão.

  • C.

    estereoscópica.

  • D.

    eletrônica de varredura.

  • E.

    eletrônica de transmissão de lâminas finas.

Qual é a alternativa que apresenta a relação mais próxima entre o número ASTM (ou tamanho de grão ASTM) e o diâmetro médio equivalente (DME) para avaliação do tamanho de grão cristalino?

  • A.

    ASTM 6 – DME = 40 ìm.

  • B.

    ASTM 6 – DME = 250 ìm.

  • C.

    ASTM 1 – DME = 6 ìm.

  • D.

    ASTM 1 – DME = 40 ìm.

  • E.

    ASTM 10 – DME = 250 ìm.

Qual propriedade das ligas metálicas pode ser obtida por microscopia óptica?

  • A.

    Potencial de corrosão.

  • B.

    Coeficiente de encruamento.

  • C.

    Quantificação de regiões recristalizadas.

  • D.

    Composição química de inclusões.

  • E.

    Resistividade elétrica.

A acetona é empregada na preparação de amostras de aço para análise em microscópio óptico para

  • A.

    produzir pites de corrosão a fim de revelar discordâncias.

  • B.

    evidenciar os contornos dos grãos cristalinos.

  • C.

    destacar a orientação cristalográfica dos grãos cristalinos.

  • D.

    evidenciar a distribuição das linhas de fluxo.

  • E.

    limpar resíduos superficiais produzidos nas operações de lixamento e polimento.

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