Questões sobre Eletrônica digital

No contexto de design for debug and diagnosis (DFD), faz-se as seguintes afirmações.

I. O processo de diagnóstico e debug exige um alto grau de controlabilidade e observabilidade dos nós internos de um circuito de forma que muitas das técnicas de DFT como scan são ajustadas para este fim. Exemplos deste tipo de técnicas especialmente ajustadas para diagnóstico e debug são blocos lógicos e sinais de relógio reconfiguráveis.

II. A única forma de extrair as informações de debug e diagnóstico é através de cadeias de scan dedicadas para isto.

III. Pode-se empregar de focused ion beam (FIB) para a edição ou pequenos consertos em um circuito integrado visando isolar ou corrigir possíveis defeitos.

• A. Apenas I é verdadeira.
• B. Apenas II é verdadeira.
• C. Apenas I e II verdadeiras.
• D. Apenas I e III verdadeira.
• E. I, II e III são verdadeiras.

Em aplicações onde são usadas técnicas de DFT baseadas em BIST – built-in self test deve-se ter especial atenção ao processo de aplicação do teste em si. No caso de memórias, uma das técnicas aplicadas para o auto-teste em baixa potência é:

• A. O espaçamento entre os ciclos de leitura e escrita.
• B. A aplicação do teste no tempo em que a memória não está sendo acessada.
• C. A modificação dos testes convencionais de memória reordenando o endereçamento para evitar ao máximo as transições nas linhas de endereço sem perder a cobertura de falhas.
• D. O emprego do menor número de transições nos bits da memória.
• E. Nenhuma das descritas anteriormente.

• A.

  

• B.

  

• C.

  

• D.

  

• E.

  

Caracteriza um tipo de entrada comum em CLPs:

• A.

  PNP com chaveamento pelo polo negativo e varistor para eliminar surtos de tensão.

• B.

  PNP com chaveamento pelo polo positivo e filtro passa-baixas para eliminar interferência de RF.

• C.

  NPN com chaveamento pelo polo positivo e transistor em coletor aberto para limitar a tensão.

• D.

  NPN com chaveamento pelo polo positivo e isolamento óptico para aumentar a segurança.

• E.

  

• A.

  

• B.

  

• C.

  

• D.

  

• E.

  

O número (C6)₁₆ convertido para os sistemas numéricos decimal e binário vale, respectivamente,

• A.

  86 e 1100101

• B.

  105 e 01010101

• C.

  122 e 10001000

• D.

  148 e 11011010

• E.

  198 e 11000110

Estão corretamente apresentadas duas condições de entrada e seus respectivos níveis lógicos de saída em

• A.

  

• B.

  

• C.

  

• D.

  

• E.

  

Ele representa a expressão lógica

• A.

  

• B.

  

• C.

  

• D.

  

• E.

  

Com relação aos conceitos de sistemas e circuitos digitais, julgue os itens subsequentes.

Em um sistema de numeração de complemento a dois com dois octetos, é possível representar números decimais na faixa de 0 a 65.535.

• C. Certo
• E. Errado

Com relação aos conceitos de sistemas e circuitos digitais, julgue os itens subsequentes.

O flip-flop SC, representado na figura abaixo, é caracterizado pela tabela-verdade ao lado dessa figura.

• C. Certo
• E. Errado