Questões de Física

O conhecimento da microestrutura dos materiais possibilita a compreensão de suas propriedades e de seus comportamentos. Em muitos casos, podem ser feitas previsões detalhadas do comportamento do material. A importância desse conhecimento tem levado a um desenvolvimento contínuo de técnicas experimentais, particularmente da microscopia, cujos aumentos máximos têm crescido e as resoluções, melhorado continuamente. Acerca da microscopia óptica, julgue os itens subseqüentes.

Em um microscópio óptico, o contraste é uma propriedade inerente da amostra e, portanto, não depende da interação da luz com a própria amostra.

• C. Certo
• E. Errado

Um veículo passou às 7 horas e 20 minutos pelo quilômetro 112 de uma rodovia e às 10 horas estava exatamente no quilômetro 368 dessa mesma rodovia. Nesse intervalo de tempo esse veículo manteve a velocidade média de:

• A. 106 km/h.
• B. 88 km/h.
• C. 92 km/h.
• D. 96 km/h.

Controles sem fio, como os de de abertura de portas de garagem geralmente fazem uso da radiação infra-vermelha, enquanto que telefones sem fio e celulares utilizam radiofreqüências. A escolha dessas diferentes faixas de radiação eletromagnética se deve a

• A.

  uma consideração de ordem econômica, em função da demanda de energia das baterias.

• B.

  diferentes decaimentos da intensidade em função da distância, ou seja, diferentes alcances.

• C.

  razões práticas dadas em função da diferente radiotransparência das paredes a cada freqüência.

• D.

  princípios de segurança no uso e na privacidade estratégica das radiações nas comunicações.

• E.

  opção dos fabricantes, pois pode-se operar celular com infravermelho e controle com rádio freqüência.

O conhecimento da microestrutura dos materiais possibilita a compreensão de suas propriedades e de seus comportamentos. Em muitos casos, podem ser feitas previsões detalhadas do comportamento do material. A importância desse conhecimento tem levado a um desenvolvimento contínuo de técnicas experimentais, particularmente da microscopia, cujos aumentos máximos têm crescido e as resoluções, melhorado continuamente. Acerca da microscopia óptica, julgue os itens subseqüentes.

O contraste da imagem de materiais isotrópicos pode ser melhorado utilizando-se microscópios de luz polarizada, pois tais materiais são capazes de transformar luz polarizada em luz não polarizada.

• C. Certo
• E. Errado

O professor de Física deve desenvolver permanentemente atualização e aperfeiçoamento profissional. Nesse sentido, considere as seguintes afirmações:
I. Ele deve fazer pesquisa em Física, como ciência básica ou aplicada.
II. O seu trabalho como professor constitui parte essencial de seu campo prático de investigação científica e pedagógica.
III. A sua cultura científica, e também a geral, precisam ser continuamente promovidas.

Dentre essas afirmações, são plausíveis a um professor de Física da educação básica

• A.

  I, apenas.

• B.

  I e II, apenas.

• C.

  I e III, apenas.

• D.

  II e III, apenas.

• E.

  I, II e III.

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

As lentes do MET são feitas de material semicondutor, geralmente silício, e, portanto, não apresentam aberrações.

• C. Certo
• E. Errado

O aprendizado de Física, assim como sua pesquisa, envolve observações, experimentações, interpretações e verificações. Considere, nesse sentido, as atividades formativas:
I. observações qualitativas, feitas pelos alunos, de processos naturais ou tecnológicos em seu cotidiano;
II. demonstrações semiquantitativas orientadas pelo professor em sala de aula;
III. verificações quantitativas realizadas por grupos de alunos em laboratório didático.

Você diria que constitui parte integrante da dimensão prática e experimental do aprendizado escolar de Física o apresentado em

• A.

  I, apenas.

• B.

  II, apenas.

• C.

  I e II, apenas.

• D.

  II e III, apenas.

• E.

  I, II e III.

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

Um mecanismo de contraste possível na imagem formada por elétrons retroespalhados em um MEV é o contraste de composição.

• C. Certo
• E. Errado

Tendo em vista, de um lado, o caráter de etapa conclusiva da Educação Básica atribuído ao ensino médio pela LDB/1996 e, de outro, as rápidas e contínuas mudanças no mundo do trabalho trazidas pelas inovações científico-tecnológicas, é adequado que o ensino atual da Física na escola básica esteja voltado à

• A.

  formação profissional específica, em lugar de qualificação de caráter geral.

• B.

  preparação propedêutica para o ensino superior em lugar da formação técnica.

• C.

  formação geral que qualifique para a vida social e profissional e para o aprendizado permanente.

• D.

  preparação para o aprendizado crítico e abstrato em detrimento de qualificação para intervenções práticas.

• E.

  formação técnica que capacite para dominar os princípios e instrumentos voltados à investigação científica.

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

A formação de imagem no MEV depende fundamentalmente do número de neutrinos emitidos pela amostra quando o feixe primário incide sobre ela.

• C. Certo
• E. Errado