Questões de Engenharia Eletrônica do ano 2004

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Sistemas críticos em segurança, como controle de reatores nucleares e veículos espaciais, não utilizam mecanismos de teste online devido ao risco representado pela sobrecarga de cálculo durante o funcionamento do circuito.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Falhas permanentes ocorrem devido a defeitos de fabricação e, ao contrário de falhas intermitentes, podem ser determinadas pelos testes offline de produção.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

No circuito abaixo, o vetor (A, B, C, D) = (0, 1, 1, 0) detecta a falha A s-a-1.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A simulação de falhas consiste na simulação da ocorrência de falhas de determinado modelo, comparando-se o resultado do teste com o da simulação sem falhas. Essa simulação pode ser corretamente utilizada para a verificação da cobertura de falhas, isto é, do percentual de falhas detectadas por estímulos aplicados.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A geração automática de vetores de teste é um processo que produz os vetores de saída correspondentes aos estímulos fornecidos, necessários à determinação da cobertura de falhas.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A técnica do boundary-scan é a base da norma de teste IEEE 1149.1, adotada em diversos produtos no mercado, e é composta, basicamente, de um registrador de instruções, um registrador de dados de teste, uma porta de acesso à infra-estrutura de teste (TAP) e seu controlador.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A controlabilidade de um sinal é um conceito relativo à testabilidade de circuitos que indica a capacidade de se propagar uma informação a partir de um nodo interno até as saídas do circuito.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

O auto-teste integrado (BIST) é um mecanismo que integra funções de teste no próprio chip, simplificando e reduzindo o custo do teste. Por outro lado, apresenta a desvantagem de aumentar o custo da pastilha e pode reduzir o rendimento (yield) de fabricação.

• C. Certo
• E. Errado

No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Com relação à testabilidade, os módulos multi-chip (MCM) podem ser testados após o encapsulamento, o que permite reduzir o custo do teste.

• C. Certo
• E. Errado

A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.

Um sinal analógico limitado em banda pode ser reconstruído a partir de suas amostras obtidas a uma taxa igual ou inferior à máxima freqüência existente no espectro do sinal.

• C. Certo
• E. Errado