Questões sobre Eletrônica analógica e digital

Com relação aos elementos de interconexão empregados em redes de computadores, julgue os itens seguintes.

Gateways são dispositivos que atuam até a camada de rede, assim como roteadores, no entanto são mais adequados para interligar redes com tecnologias diferentes.

• C. Certo
• E. Errado

Qual das seguintes tarefas não está diretamente relacionada com um testbench?

• A. Gerar estímulo para entradas.
• B. Aplicar estímulo no DUV.
• C. Capturar a resposta.
• D. Testar a corretude do testbench visualizando a forma de onda.
• E. Mensurar o progresso contra os objetivos de verificação do plano de verificação.

O que não deve ser randomizado em um testbench aleatório por restrições (constrained-random simulation)?

• A. Configuração do dispositivo.
• B. Valores não-inicializados de registradores.
• C. Configuração do ambiente.
• D. Exceções do protocolo.
• E. Atrasos.

Dado o seguinte pedaço de código em SystemVerilog.

...

rand logic [15:0] x,y,z;

constraint todos_os_valores {

x < z;

y == x;

z < 500;

y > 490;

}

Quantas soluções diferentes o resolvedor de restrições do simulador irá gerar?

• A. 36
• B. 42
• C. 15
• D. 53
• E. 24

Dado o seguinte trecho de código em System Verilog.

...

rand bit [3:0] Instr;

rand bit [3:0] ALU_OP;

constraint todos_os_valores {

(Instr != 4’d0) -> (ALU_OP == 4’d0);

}

Qual a probabilidade de se ter Instr == 4’d1 e ALU_OP == 4’d0?

• A. 1/16
• B. 1/31
• C. 1/256
• D. 1/128
• E. 0

• A.

  20,8 Hz

• B.

  12,4 Hz

• C.

  9,6 Hz

• D.

  4,8 Hz

• E.

  2,4 Hz

Quais das seguintes estruturas não é parte da linguagem SystemVerilog, de acordo com o padrão IEEE 1800-2009?

• A. Mailbox.
• B. Join_none.
• C. Semaphore.
• D. Disable.
• E. Disable.

• A.

  12,5

• B.

  25

• C.

  50

• D.

  75

• E.

  125

Quais das opções abaixo não fazem parte de uma especificação de um “covergroup” em SystemVerilog?

• A. Um evento de clock que sincroniza a amostragem dos pontos de cobertura.
• B. Um conjunto de pontos de cobertura.
• C. Cobertura cruzada entre os pontos de cobertura.
• D. Um conjunto de “bins” associados ao conjunto de variáveis amostradas ou transições de valores.
• E. Um conjunto de processos de amostragem.

Um capacitor de 220 nF e um indutor de 220 μH encontram- se ligados em paralelo e estão submetidos a uma tensão senoidal de 40 kHz. Sendo XC a reatância do capacitor e XL a do indutor, é correta a relação:

• A.

  XL / XC ≅ 10

• B.

  XL / XC ≅ 10

• C.

  XL ≅ XC

• D.

  XL < XC

• E.

  XC ≅ 8. XL